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示差走査熱量計

-180°Cから2400°Cまでの熱流測定

示差走査熱量測定(DSC)は、温度を関数としての転移温度や固体および液体のエンタルピーの決定などの吸熱および発熱転移を検出するための最も一般的な測定手法です。そのため、サンプルとリファレンスは同じ温度条件下に維持され、熱流束が測定されます。

リンザイスは示差走査熱量計の開発に長年の経験があり、-180°Cから2400°Cの温度範囲と真空から300barまでの圧力範囲で、研究/開発および品質管理からの各要求に対する最高の要求を満たすことができます。

この機器は、ポリマー、医薬品、食品/生物学、有機化学物質、無機物質の特性評価に使用されます。

材料の次の興味深い物理的特性を測定できます。
エンタルピー、融解エネルギー、比熱、ガラス転移点、結晶化度、反応エンタルピー、熱安定性、酸化安定性、老化、純度、相転移、共晶、多形体、製品識別、硬化および硬化速度論。

ChipDSC 1

Linseis Chip DSC 10
  • 交換容易なセンサーを備えた高機能モデル
  • 低価格で非常に革新的でコンパクトなDSC
  • 温度範囲はRT~450℃

詳細

ChipDSC 10

Linseis Chip DSC 10
  • 品質管理と教育に最適なDSC
  • 交換容易なセンサーを備えた標準モデルのDSC
  • -180~600°C(液体窒素による冷却)

詳細

ChipDSC 100

Linseis Chip-DSC 100
  • ユニークなチップセンサー方式の高速昇温が可能なDSC
  • モジュール式の拡張可能なデザイン(オートサンプラー、冷却オプションなど)
  • 温度範囲は-180〜600°C(ペルティエ、インタークーラー又は液体窒素による冷却)
詳細

DSC PT 1000

STA PT 1000
  • ユーザーが交換可能なセンサーを備えた最先端のDSC
  • 温度範囲-180〜750°C

詳細

DSC PT 1600

STA oder TGA PT 1600
  • 高温領域まで昇温可能なDSC
  • 金属及びセラミックなどの比熱(Cp)およびエンタルピーの測定
  • 温度範囲-150〜2400°C

詳細

アプリケーション

  • 相転移-温度に対するエンタルピーの変化による相転移と同様に融点と結晶化点の測定
  • ガラス転移温度の測定-高分解能熱量検出によるガラス転移点(Tg)の測定
  • 比熱(Cp)の測定-標準試料サファイアによる固体および液体の比熱の測定(JIS準拠)
  • エンタルピー測定-化学反応の吸熱および発熱エンタルピーΔHの測定
  • 熱/酸化安定性の測定-様々なガス雰囲気及び異なる圧力でのOIT(酸化誘導時間)測定

 

可能な測定条件

  • 温度範囲:-150°Cから2400°C
  • 測定雰囲気:空気、窒素、ヘリウム、アルゴン、ゲッターガス、真空など
  • 圧力範囲:10-5 mbarから150 bar

当社の機器は、ASTM C 351、D 3417、D 3418、D 3895、D 4565、E 793、E 794、DIN 51004、51007、53765、65467、DIN EN 728、11375、11409、ISO 10837などの国内および国際規格に準拠して動作します。

 

 

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概要


Chip-DSCパンフレット(PDF)

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DSC PT 1000パンフレット(PDF)

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HDSC PT 1600パンフレット(PDF)

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