熱電用LINSEISデバイス:LSR、LFA、LZT及びTFA
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熱電計器

熱廃棄物回収/熱電発電機(TEG)/ペルチェ素子/センサー

熱電性は、材料の温度と電気の相互の影響を表し、ゼーベック効果、ペルチェ効果、トムソン効果の3つの基本的な効果に基づいています。ゼーベック効果は、1821年にドイツの物理学者Thomas J. Seebeckによって発見され、電気的に絶縁された導体に温度勾配をかけると電界が発生することを説明しています。ゼーベック係数Sは、負の熱電圧と温度差の商として定義され、純粋に材料固有の変数であり、通常は単位μV/ Kで与えられます。

逆に、この効果はペルチェ効果と呼ばれ、導体に外部電流を流すと温度勾配が生じます。この現象は、関連する材料の伝導帯のエネルギーレベルが異なるためです。したがって、ある材料から別の材料に移動する際、電荷キャリアは熱の形でエネルギーを吸収してパッドを冷却するか、熱の形でエネルギーを放出してパッドを加熱する必要があります。

化石燃料がますます希少になり、二酸化炭素排出量の増加による最近の地球温暖化の益により、熱電の分野は廃熱の有効利用のために公共の利益に戻りました。その目的は、自動車や従来の発電所などの熱機関の廃熱を熱電発電機(TEG)で使用して、変換効率を高めることです。しかし、レーザーのサーモスタット温度が重要なコンポーネントなど、ペルチェ効果による冷却アプリケーションの場合も、効率的な熱電材料が非常に重要です。

材料の熱電変換効率は、通常、無次元性能指数に基づいて比較されますZT。から計算されます熱伝導率、ゼーベック係数そしてその電気伝導性。

この開発に対処するために、単純で非常に正確な材料特性評価のための機器を開発しました。 Linseis LSR-3は、単一の測定で-100°Cから+ 1500°Cの温度範囲でサンプルのゼーベック係数と電気抵抗率の両方を決定できます。

熱電用リンザイス製品

ゼーベック係数/抵抗率/ TEG及びペルティエモジュール/薄膜

TEG-テスター

Linseis TEG Tester

Linseis TEG Testerは、熱電発電機(TEG)の温度依存の変換効率評価のための測定システムです。

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LSR-3

Linseis LSR-3

バルク材料と薄膜の最新のゼーベック係数と電気抵抗(LSR)の特性評価

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LZT-メーター

LZT-Meter

LFA(熱伝導率/拡散率)+ LSR(ゼーベック効果と電気抵抗率)を組み合わせたシステム

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TFA

Linseis TFA

TFA-Thin Film Analyzer-完全な性能指数を備えた最新世代のラボオンチップ技術ZT–170°Cから280°Cまでのnmからµmの範囲の薄膜の特性評価

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LFA 500

LFA-500

LFA 500-LightFlash Analyzer-標準仕様システム。 -100°Cから+ 1250°Cまでの温度範囲での熱拡散率測定。

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LFA 1000

LFA-1000

LFA 1000-True LaserFlash Analyzer-プレミアムシステム。 -125°Cから+ 2800°Cまでの温度範囲での熱拡散率測定。

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L79 HCS

Linseis Hall L79 HCS

L79 / HCSシステムは、半導体デバイスの特性評価を可能にし、以下を測定します。モビリティ、抵抗率、電荷キャリア濃度、ホール係数

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TF-LFA

Linseis TF-LFA

TF-LFA-時間領域熱反射率(TDTR)–100°Cから500°Cまでの温度範囲での薄膜の熱拡散率。

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